Teranishi R., Mitani A., Yamada K., Mori N., Hisatsune Y., Mukaida M., Inoue M., Kiss T., Nakaoka K., Matsuda J., Izumi T., Shiohara Y.
Ключевые слова: HTS, REBCO, films, TFA-MOD process, substrate LaAlO3, grain alignment, fabrication
Zulkifli Z., Kiss T., Inoue M., Enpuku K., Kashima N., Watanabe T., Mori M., Nagaya S., Ibi A., Miyata S., Yamada Y., Shiohara Y.
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, IBAD process, CVD process, microstructure, homogeneity, current density, dissipative properties, flux flow, experimental results, fabrication
Mitani A., Teranishi R., Yamada K., Mori N., Mukaida M., Kiss T., Inoue M., Shiohara Y., Izumi T., Nakaoka K., Matsuda J.
Ключевые слова: HTS, REBCO, films, TFA-MOD process, substrate LaAlO3, microstructure, fabrication
Yoshida J., Tada K., Tanaka T., Mori N., Yamada K., Teranishi R., Mukaida M., Kiss T., Inoue M., Shiohara Y., Izumi T., Nakaoka K., Matsuda J.
Ключевые слова: HTS, YBCO, films, substrate LaAlO3, TFA-MOD process, microstructure, fabrication
Tada K., Yoshida J., Mori N., Yamada K., Teranishi R., Mukaida M., Kiss T., Inoue M., Shiohara Y., Izumi T., Matsuda J., Nakaoka K.
Ключевые слова: HTS, YBCO, films, substrate LaAlO3, TFA-MOD process, fabrication, critical current density, composition, microstructure, critical caracteristics
Kiss T., Higashikawa K., Matsekh A., Imamura K., Abiru K., Honda Y., Inoue M., Miyata S., Ibi A., Yamada Y., Kato J., Chikumoto N., Nakao K., Yoshizumi M., Izumi T., Shiohara Y.
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, ac losses, critical caracteristics, numerical analysis
Ключевые слова: SMES, HTS, YBCO, coated conductors, coils toroidal, design parameters, power equipment
Inoue M., Kiss T., Mitsui D., Nakamura T., Fujiwara T., Awaji S., Watanabe K., Ibi A., Miyata S., Yamada Y., Shiohara Y.
Kiss T., Inoue M., Shoyama T., Koyanagi S., Mitsui D., Nakamura T., Imamura K., Ibi A., Yamada Y., Kato T., Hirayama T., Shiohara Y.
Inoue M., Kiss T., Motoyama K., Nakamura T., Fujiwara T., Mitsui D., Awaji S., Watanabe K., Ibi A., Takahashi K., Miyata S., Yamada Y., Shiohara Y.
Kiss T., Inoue M., Mitsui D., Fujiwara T.N., Nakamura T., Awaji S., Watanabe K., Ibi A., Takahashi K., Yamada Y., Shiohara Y.Y.
Koyanagi K., Kiss T.(kiss@sc.kyushu-u.ac.jp), Inoue M., Nakamura T., Imamura K., Takeo M., Shiohara Y.(shiohara@istec.or.jp)
Ключевые слова: HTS, YBCO, films epitaxial, substrate SrTiO3, defects, local distribution, current density, current distribution, measurement technique
Inoue M., Kiss T., Tsuda Y., Sawa H., Takeo M., Awaji S., Watanabe K., Iijima Y., Kakimoto K., Saitoh T., Matsuda J., Tokunaga Y., Izumi T., Shiohara Y.
Inoue M.(inoue@ees.kyushu-u.ac.jp), Kiss T., Koyanagi S., Imamura K., Takeo M., Iijima Y., Kakimoto K., Saitoh T., Matsuda J., Tokunaga Y.
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, trapped field, measurement technique, experimental results, magnetic properties
Inoue M.(inoue@ees.kyushu-u.ac.jp), Kiss T., Tokutomi H., Shoyama T., Imamura K., Takeo M., Iijima Y., Kakimoto K., Saitoh T., Tokunaga Y.
Matsushita T.(matusita@cse.kyutech.ac.jp), Watanabe T., Fukumoto Y., Yamauchi K., Kiuchi M., Otabe E.S., Kiss T., Watanabe T., Miyata S., Ibi A., Muroga T., Yamada Y., Shiohara Y.
Iwakuma M.(iwakuma@sc.kyushu-u.ac.jp), Nigo M., Inoue D., Miyamoto N., Kiss T., Funaki K., Iijima Y., Saitoh T., Izumi T., Yamada Y., Shiohara Y.
Iwakuma M., Nigo M., Inoue D., Kiss T., Funaki K., Iijima Y., Saitoh T., Yamada Y., Shiohara Y.(shiohara@istec.or.jp)
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, IBAD process, PLD process, ac losses, angular dependence, experimental results, fabrication
Iwakuma M.(iwakuma@sc.kyushu-u.ac.jp), Toyota K., Nigo M., Kiss T., Funaki K., Iijima Y., Saitoh T., Yamada Y., Shiohara Y.
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.